HP9000LED芯片光色電參數(shù)綜合測(cè)試儀由LED光色電特性分析系統(tǒng)和LED芯片測(cè)試平臺(tái)組成。專用芯片測(cè)量平臺(tái)由樣品臺(tái),三維探針架,光強(qiáng)測(cè)試支架,顯微鏡和電路控制盒等部分構(gòu)成,光強(qiáng)測(cè)量需用CIE-A條件,光纖耦合,能夠快速平穩(wěn)地點(diǎn)亮各種LED芯片,配合光譜測(cè)試系統(tǒng)即可測(cè)量芯片的各種光電色參數(shù),具有測(cè)量參數(shù)分檔顯示功能,方便與各種分光分色測(cè)試機(jī)配置。
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